显微镜下测定涂层厚度的标准试验方法

用显微镜测量涂层厚度的方法

用金相显微镜测量涂层的厚度是一种非常直观的观察和测量方法，这在许多文章中都有描述，我相信你已经掌握了测量的方法。工业视频显微镜将传统的显微镜与摄像系统,显示器或者电脑相结合,达到对被测物体的放大观察的目的。体视显微镜指从不同角度观察物体,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。金相显微镜电脑型金相显微镜或是数码金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等以及对图片进行输出、打印。在涂层测量之前，涂层样品的制备方法也很重要，涂层样品的制备质量直接影响到观察效果和测量结果，如何准确、标准的取样？下面通过引入显微镜来检测涂层的厚度，制备样品。

首先介绍了显微镜的测量原理和方法。

显微镜法测量覆盖层厚度可以简单且直观，其基本工作原理是：在待测件上选取有代表性的试样，然后我们经过一个适当工序制作成符合设计要求的横断面，通过利用光学电子显微镜，在图像处理放大下，用校正过的目镜测微尺或精度具有较高的标尺(如游标卡等)测量覆盖层横断面的知识宽度，即为覆盖层的厚度。一般企业来说，厚度影响较大时可选择精度相对较高的标尺直接导致测量横断面宽度；厚度较小时，则采用目镜测微尺。此外，随着中国工业显微镜向数字化光电信息图像分析显示经济发展，数字化显微镜图像质量检测网络技术已经开始逐渐应用到覆盖层测厚领域。该技术人员使用高分辨率CCD和CMOS摄像机，将显微镜的光学图像转换到计算机中，然后用专用的测量管理软件控制系统需要相关图像传感器测量。

接下来，我们将介绍样品的制备方法。

1 横断面的要求及制备

1.1 横断面的要求

为了精确测量盖子的真实厚度，横截面必须满足以下要求：

(1)横断面设计必须通过垂直于覆盖层表面；

(2)横截面表面光滑；

(3)切割和制备横断面所引起的变形以及材质要去掉；

(4)覆盖层横断面的两界面线应清楚明晰。

制备符合要求的截面是显微镜测厚的关键。 如果制备的横截面不符合要求，则无论测量仪器有多精确，都不可能测量厚度的真实值。

1.2 横断面研究制备的补充说明

断面的制备包括取样、镶嵌、打磨、抛光和蚀刻五个步骤。标准中给出了横断面准备的相关导则，可供采用标准时参考。同时，应注意以下几点。

2 取样

一般从待测件的主要通过表面的一处或多处切取试样，并具有中国充分的代表性。试样的截取一个方法研究可根据需要金属结构材料的性能分析不同国家而异。对于软材料，可以用锯、车、刨等方法；对于硬材料，可以用这种砂轮切片机切割或电火花加工切割等方法。此外，还可以设计采用内部金相组织试样使用切割机设备。试样的大小和形状以便于握持、易于各种磨制技术为准，通常我们采用一种直径15~20 mm、高15～20 mm的圆柱体或边长15～20 mm的立方体。

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